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Product Category多功能方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
多功能電阻率測(cè)試儀在基本表的基礎(chǔ)上,通過(guò)增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過(guò)流保護(hù),精密分流器、精密儀表放大器,實(shí)現(xiàn)直流電流(DC-μA.mA)的j確多量程測(cè)量。
工業(yè)方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
導(dǎo)電電阻率測(cè)試儀在基本表的基礎(chǔ)上,通過(guò)增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過(guò)流保護(hù),精密分流器、精密儀表放大器,實(shí)現(xiàn)直流電流(DC-μA.mA)的j確多量程測(cè)量。
方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
物體表面導(dǎo)電電阻率測(cè)試儀在基本表的基礎(chǔ)上,通過(guò)增加控制轉(zhuǎn)換、輸入過(guò)流保護(hù),精密分流器、精密儀表放大器,實(shí)現(xiàn)直流電流(DC-μA.mA)的j確多量程測(cè)量。
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?
高絕緣電阻率測(cè)試儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表,除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外,其他特點(diǎn)與用途見(jiàn)上述專題介紹。
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